INSIGHT 桌面式鍍層測厚儀使用微聚焦X射線管將X射線源的大部分射線收集并匯聚成微束斑，照射在樣品位置，從而獲得良好的空間分辨率及很強的熒光信號，通過能譜探頭及后續的數據處理器等采集、處理并評價樣品被輻照后產生的熒光信號，得出樣品的成分信息。它可實現更復雜應用的快速測量和精準分析，是對不均勻或形狀不規則的未知樣品以及微觀物體進行元素分析的理想方法。

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